文献

J-GLOBAL ID：202002237180281188   整理番号：20A0374577

ガンマ過程に基づく垂直空洞面発光レーザの信頼性解析【JST・京大機械翻訳】

Reliability Analysis of Vertical Cavity Surface-Emitting Lasers Based on the Gamma Process

著者 (2件)： Lu Jing (School of Information Science and Technology, Southwest Jiaotong University, Chengdu, China) ,  Luo Bin (School of Information Science and Technology, Southwest Jiaotong University, Chengdu, China)
資料名： IEEE Access  (IEEE Access)
巻： 8  ページ： 10686-10692  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2422A  ISSN： 2169-3536  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 垂直共振器面発光レーザの長寿命と高信頼性のために,性能劣化実験コストは高く,半導体レーザの劣化故障プロセスは単調な減少プロセスであり,性能劣化の量は各機能に独立しているので,実験サイクルは長い。したがって,ガンマ過程に基づいて,垂直共振器面発光レーザの劣化性能をモデル化し,解析した。最初に,ガンマ過程に基づいてモデルを与えた。次に,製品の故障分布をプロセスの最初の到着時間分布を分析することによって決定して,次に,製品の信頼性を統計的に推論して,この装置の残留寿命分布を測定した。最終的に,加速エージング実験から得られたデータと組み合わせて,261470時間の製品故障時間を推定し,約30年である。このモデルは実験結果と良く一致し,モデルの妥当性を証明し,垂直空洞面発光レーザの信頼性の解析のための理論的基礎を提供した。モデルによると,装置の信頼性は,10万時間の操作の後,0.9994まで減少した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 劣化故障 ,  半導体レーザ ,  *面発光レーザ ,  寿命分布 ,  故障 ,  共振器 ,  *信頼性解析 ,  *信頼性
準シソーラス用語： 到着時間 ,  性能劣化 ,  高信頼性 ,  長寿命 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 音声処理  (JE05000E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 過程 ,  垂直 ,  空洞 ,  面発光レーザ ,  信頼性解析