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J-GLOBAL ID：202002237278103944   整理番号：20A1020307

COBD故障を起こす高出力InGaAs-AlGaAs歪QWレーザの故障ベース信頼性モデルの物理学【JST・京大機械翻訳】

Physics of failure based reliability model of high-power InGaAs-AlGaAs strained QW lasers prone to COBD failure

著者 (4件)： Sin Yongkun (The Aerospace Corp. (United States)) ,  Stuart Sean (The Aerospace Corp. (United States)) ,  Brodie Miles (The Aerospace Corp. (United States)) ,  Lingley Zachary (The Aerospace Corp. (United States))
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 11262  ページ： 1126207-12  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 広面積と単一モード歪InGaAs-AlGaAs単一量子井戸(QW)レーザは,それらの優れたパワーと効率特性のため,地上と宇宙衛星通信システムの両方のための不可欠な構成要素である。しかしながら,壊滅的な光損傷(COD)によるそれらの劣化モード(壊滅的および突然の劣化)は,特に空間応用に対する主要な関心事である。それは,COD-傾向レーザが典型的には明らかな破壊の前駆体の兆候を示さないからである。さらに,著者らのグループが2009年に最初に報告したように,これらのレーザは,壊滅的な光バルク損傷(COBD)により劣化する。これは,壊滅的な破壊モード(ファセット破壊)により劣化する。COMDとは異なり,COBDの根本原因に関する報告は限られている。さらに,多くのグループによる(Al)GaAsまたはInGaAs QWレーザにおける信頼性と劣化プロセスの十分長い研究は,故障の物理に基づく信頼性モデルをもたらした。InGaAs-AlGaAs歪QWレーザの故障に基づく信頼性モデルの物理を開発するための努力の一部として,短期的および長期的な寿命試験,破壊モード解析,および種々の破壊的および非破壊的技術を用いた根本原因調査を実施することにより,著者らの研究を継続した。COBDにより劣化した広い面積と単一モードレーザの全てを試験した。電子ビーム誘起電流(EBIC)技術を用いて,異なる試験条件と時間分解エレクトロルミネセンス(TR-EL)法で応力を受けたレーザの暗線欠陥(DLD)の形成を研究し,再結合増強欠陥反応による電気-熱応力へのDLD伝搬の依存性を調べた。また,高分解能TEMと深準位過渡分光法(DLTS)を用いて,拡張欠陥と点欠陥(電子トラップ)を調べた。最後に,故障調査の物理学から得られた信頼性モデルパラメータについて報告し,それらを経験的モデルを用いて抽出されたものと比較した。COPYRIGHT SPIE. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： エレクトロルミネセンス ,  再結合 ,  点欠陥 ,  電子ビーム ,  *故障 ,  寿命試験 ,  *信頼性 ,  *ヒ化ガリウム ,  ファセット ,  *量子井戸レーザ ,  電子線誘起電流 ,  高分解能 ,  単一モード ,  *ヒ化ガリウムインジウム ,  *ヒ化ガリウムアルミニウム

分類 (1件)： 半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (8件)： 故障 ,  高出力 ,  InGaAs ,  AlGaAs ,  歪 ,  QWレーザ ,  信頼性モデル ,  物理学