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J-GLOBAL ID：202002237509103872   整理番号：20A2229888

イオの足跡テールElectronフラックスの変化を説明する新しいフレームワーク【JST・京大機械翻訳】

A New Framework to Explain Changes in Io’s Footprint Tail Electron Fluxes

著者 (16件)： Szalay J. R. (Department of Astrophysical Sciences, Princeton University, Princeton, NJ, USA) ,  Allegrini F. (Southwest Research Institute, San Antonio, TX, USA) ,  Allegrini F. (Department of Physics and Astronomy, University of Texas at San Antonio, San Antonio, TX, USA) ,  Bagenal F. (Laboratory for Atmospheric and Space Physics, University of Colorado Boulder, Boulder, CO, USA) ,  Bolton S. J. (Southwest Research Institute, San Antonio, TX, USA) ,  Bonfond B. (Space Sciences, Technologies and Astrophysics Research Institute, LPAP, Universite de Liege, Liege, Belgium) ,  Clark G. (Johns Hopkins University Applied Physics Lab, Laurel, MD, USA) ,  Connerney J. E. P. (Space Research Corporation, Annapolis, MD, USA) ,  Connerney J. E. P. (Goddard Space Flight Center, Greenbelt, Maryland, USA) ,  Ebert R. W. (Southwest Research Institute, San Antonio, TX, USA) ,  Ebert R. W. (Department of Physics and Astronomy, University of Texas at San Antonio, San Antonio, TX, USA) ,  Hue V. (Southwest Research Institute, San Antonio, TX, USA) ,  McComas D. J. (Department of Astrophysical Sciences, Princeton University, Princeton, NJ, USA) ,  Saur J. (Institute of Geophysics and Meteorology, University of Cologne, Cologne, Germany) ,  Sulaiman A. H. (Department of Physics and Astronomy, University of Iowa, IA, USA) ,  Wilson R. J. (Laboratory for Atmospheric and Space Physics, University of Colorado Boulder, Boulder, CO, USA)
資料名： Geophysical Research Letters  (Geophysical Research Letters)
巻： 47  号： 18  ページ： e2020GL089267  発行年： 2020年 
JST資料番号： H0609B  ISSN： 0094-8276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 著者らは,0.15から1.1Jovian半径(R_J)の高度にわたって,Ioのフットプリントテールオーロラの18の交差に接続した沈殿電子フラックスを解析した。析出電子フラックスの強度は,「Io-Alfvenテール距離」,Io間のIoの軌道に沿った角度,およびテールオーロラに接続されたAlfven波軌跡によって,支配的に組織化される。これらのフラックスは,21°Cのe-折畳み距離でダウンテール範囲の関数として指数に最も良く適合した。加速度領域高度はダウンテールを増加させ,テールオーロラを維持する並列電子加速の大部分は高度で1R_J以上で起きた。Ioから打ち上げられた初期Alfven波のテールフラックスとパワーとの相関は見出せなかった。最後に,JunoはIoの主なAlfven Wingフラックス管を通過し,降水電子フラックスλ>600mW/m2と高度で0.4R_Jの低い加速領域を有する特徴的に異なる特徴を観察した。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： Alfven波 ,  *極光 ,  降水 ,  加速度 ,  沈殿 ,  折畳み
準シソーラス用語： フットプリント ,  電子加速 ,  *足跡 ,  電子フラックス , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 磁気圏  (DC04060Z) ,  惑星  (DB04020E) ,  極光  (DC04090G)

タイトルに関連する用語 (6件)： イオ ,  足跡 ,  テール ,  フラックス ,  説明 ,  フレームワーク