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J-GLOBAL ID:202002237672135262   整理番号:20A0277390

超広バンドギャップ薄層の熱伝導率 高Al含有量AlGaNとβ-Ga_2O_3【JST・京大機械翻訳】

Thermal conductivity of ultra-wide bandgap thin layers - High Al-content AlGaN and β-Ga2O3
著者 (19件):
資料名:
巻: 579  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: H0676B  ISSN: 0921-4526  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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過渡的熱反射(TTR)技術を用いて,β-Ga_2O_3と高Al含有量Al_xGa_1-xN半導体の熱伝導率を研究した。それは,高出力デバイス応用のための非常に有望な材料である。実験データを,すべての関連するフォノン散乱過程を考慮して,Callawayのモデルで解析した。著者らの結果は,高Al含有量Al_xGa_1-xNおよび(-201)β-Ga_2O_3の面外熱伝導率は,GaNまたはAlNのそれよりも同じ桁および約1桁低いことを示した。低い熱伝導率は,Al_xGa_1-xNにおける支配的フォノン-合金散乱とβ-Ga_2O_3における強いUmklappフォノン-フォノン散乱に起因する。また,フォノン-境界散乱は,高温でさえ,薄いβ-Ga_2O_3とAl_xGa_1-xN層において不可欠であり,熱伝導率は,一般的な1/T温度依存性から強く逸脱することがわかった。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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半導体結晶の電子構造 
タイトルに関連する用語 (5件):
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