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J-GLOBAL ID：202002237770372972   整理番号：20A1184512

RAMDアプローチを用いたマイクロプロセッサシステムの研究【JST・京大機械翻訳】

A study of microprocessor systems using RAMD approach

著者 (3件)： Saini Monika (Department of Mathematics and Statistics, Manipal University Jaipur, Jaipur, India) ,  Kumar Ashish (Department of Mathematics and Statistics, Manipal University Jaipur, Jaipur, India) ,  Shankar Venkatesh Gauri (Department of Information Technology, Manipal University Jaipur, Jaipur, India)
資料名： Life Cycle Reliability and Safety Engineering  (Life Cycle Reliability and Safety Engineering)
巻： 9  号： 2  ページ： 181-194  発行年： 2020年 
JST資料番号： W4692A  ISSN： 2520-1352  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究の目的は,マイクロプロセッサシステムの信頼性,アベイラビリティ,保守性および信頼性解析の結果を提供することである。マイクロプロセッサは,入力,端末,プロセッサ,主メモリディスク,アドレスモード,ディスク制御装置,およびディスクドライブを含む7つのサブシステムの助けを借りて設計される。すべてのサブシステムに対して信頼性,アベイラビリティ,保守性および信頼性解析を行った。解析目的のために,状態遷移図をすべてのサブシステムに対して設計し,Markov出生死過程支配方程式を用いた。すべてのランダム変数は指数関数的に分布し,すなわち,一定の故障率に従う。すべてのサブシステムに対する故障間の平均時間,修理までの平均時間,アベイラビリティ,信頼性,保守性および信頼性比パラメータを計算した。信頼性と保守性を種々の時間瞬間で推定した。Copyright Society for Reliability and Safety (SRESA) 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 円板 ,  故障 ,  故障率 ,  信頼性 ,  指数関数 ,  アベイラビリティ ,  信頼性解析 ,  端末装置 ,  *マイクロプロセッサ ,  *演算プロセッサ ,  主メモリ ,  保全性 ,  状態遷移図
準シソーラス用語： ハードディスクドライブ ,  ランダム変数 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： マイクロプロセッサ ,  Markov過程 ,  MTBF ,  RAMD ,  一定故障率

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (2件)： マイクロプロセッサ ,  研究