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J-GLOBAL ID:202002238552372848   整理番号:20A2278295

準深さ第一探索アルゴリズムに基づく信頼できない試験を用いた最適試験配列決定法【JST・京大機械翻訳】

Optimal Test Sequencing Method with Unreliable Tests based on Quasi-depth First Search Algorithm
著者 (4件):
資料名:
巻: 2019  号: SAFEPROCESS  ページ: 794-798  発行年: 2019年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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テストコストを減らし,故障検出と診断(FDD)の性能を確実にするため,テストシーケンス問題を最適化し,それはFDDの交差と試験可能性(DFT)のための設計である。複雑なシステム診断の誤りと欠測警報を考慮して,本論文は,準深さ第1探索(QDFS)アルゴリズムに基づく信頼できない試験に基づく故障診断のための最適試験シーケンス戦略を提案した。最初に,この方法は,故障診断能力,情報エントロピー,試験コストおよび試験の信頼性を考慮して,発見的評価関数を確立した。次に,準深さ第一探索アルゴリズムを用いて,故障診断戦略を構築した。理論と実験は,QDFS方式に基づくコストが,欲求アルゴリズムよりはるかに良いことを証明した。したがって,提案した方法を用いて,信頼性のない試験の下で故障診断のための戦略を設計することができた。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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図形・画像処理一般 
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