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J-GLOBAL ID：202002238862655278   整理番号：20A2339303

命令削除ミューテーションに基づく欠陥局所化の産業用ソフトウェアにおける評価

Evaluating Statement Deletion Mutation-based Fault Localization in Industrial Software

著者 (5件)： 徳本晋 (富士通研) ,  徳本晋 (早稲田大) ,  徳本晋 (国立情報学研) ,  本位田真一 (早稲田大) ,  本位田真一 (国立情報学研)
資料名： 情報処理学会論文誌ジャーナル(Web)
巻： 61  号： 10  ページ： 1617-1628 (WEB ONLY)  発行年： 2020年10月15日 
JST資料番号： U0452A  ISSN： 1882-7764  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 欠陥局所化技術はテスト結果やテスト実行情報などから欠陥の原因個所の候補を順位付けすることでデバッグの作業コストを削減するための技術である.いくつかの欠陥局所化技術のなかで,ミューテーション解析に基づく欠陥局所化技術(MBFL)は高い精度で欠陥を局所化できるが,実行コストが高い問題がある.一方,ミューテーション解析において,命令削除ミューテーションオペレータはミューテーション箇所の偏りが少なく,単独での利用でもすべてのミューテーションオペレータを使った場合と同等の効果があることが知られている.本論文では命令削除ミューテーションオペレータのみを用いたMBFL(SDL-MBFL)を提案し,実際の製品で使われているソフトウェアと実際に起こった9件の欠陥に対してSDL-MBFLによる局所化の評価を行った.評価の結果として,SDL-MBFLは欠陥箇所の候補の上位100位という基準において既存手法より多くの欠陥箇所をあげられた.(著者抄録)

シソーラス用語： *試験 ,  ソフトウェア ,  *デバッギング ,  スクリーニング ,  改変 ,  *局所性 ,  *欠陥 ,  *プログラム解析 ,  *プログラム検証
準シソーラス用語： *ソフトウェアテスト ,  ミューテーション・スクリーニング ,  局所化 ,  *欠陥局所化技術 ,  *ミューテーション解析 ,  産業用ソフトウェア

分類 (2件)： その他のシステムプログラミング  (JD03070M) ,  計算機システム開発  (JD02010R)

引用文献 (31件)：

• Jones, J.A. and Harrold, M.J.: Empirical Evaluation of the Tarantula Automatic Fault-Localization Technique, Proc. 20th IEEE/ACM International Conference on Automated Software Engineering, pp.273-282, Association for Computing Machinery (online), DOI:10.1145/1101908.1101949 (2005).
• Moon, S., Kim, Y., Kim, M. and Yoo, S.: Ask the Mutants: Mutating Faulty Programs for Fault Localization, 2014 IEEE Seventh International Conference on Software Testing, Verification and Validation, pp.153-162 (online), DOI: 10.1109/ICST.2014.28 (2014).
• Papadakis, M. and Le Traon, Y.: Metallaxis-FL: mutation-based fault localization, Software Testing, Verification and Reliability, Vol.25, No.5-7, pp.605-628 (2015).
• Deng, L., Offutt, J. and Li, N.: Empirical Evaluation of the Statement Deletion Mutation Operator, 2013 IEEE Sixth International Conference on Software Testing, Verification and Validation, pp.84-93 (online), DOI: 10.1109/ICST.2013.20 (2013).
• Delamaro, M.E., Deng, L., Durelli, V.H.S., Li, N. and Offutt, J.: Experimental Evaluation of SDL and One-Op Mutation for C, 2014 IEEE 7th International Conference on Software Testing, Verification and Validation, pp.203-212 (online), DOI: 10.1109/ICST.2014.33 (2014).

タイトルに関連する用語 (7件)： 命令 ,  削除 ,  欠陥 ,  局所化 ,  産業 ,  ソフトウェア ,  評価