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J-GLOBAL ID：202002240142043912   整理番号：20A2767655

カバーガラスの剛性と全機の落下試験におけるLCDの損傷の間の関係に関する研究【JST・京大機械翻訳】

Research on the relationship between the rigidity of cover glass and the damage of LCD in the drop test of whole machine

著者 (5件)： Yazhou BAO (Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China) ,  Gang YANG (Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China) ,  Yong SONG (Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China) ,  Hongjun YU (Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China) ,  Hailin XUE (Beijing BOE Optoelectronics Technology Co. Ltd.,Beijing,China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： IPFA  ページ： 1-3  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 理論解析,シミュレーション解析,および試験方法を適用して,全機械の落下試験中のカバーガラスの剛性とLCD上の応力の間の関係を研究した。研究は,実際の製品設計におけるカバーガラスの選択のための基礎を提供する。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： シミュレーション ,  落下試験 ,  *剛性 ,  製品設計
準シソーラス用語： 試験方法 ,  理論解析 ,  *カバーガラス , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： カバーガラス ,  剛性 ,  落下試験 ,  LCD ,  損傷 ,  研究