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J-GLOBAL ID：202002240506605698   整理番号：20A1116578

走査型トンネル顕微鏡による金スパッタ試料のナノスケールイメージングに関する研究【JST・京大機械翻訳】

Investigation on Nanoscale Imaging of Gold Sputtered Sample by Scanning Tunneling Microscope

著者 (3件)： Vithun S.N. (Scientist-C,Central Manufacturing Technology Institute, Tumkur Road, Bangalore 56022, India) ,  Narendra Reddy T. (Scientist-C,Central Manufacturing Technology Institute, Tumkur Road, Bangalore 56022, India) ,  Vinod Prakash (HOD-Nano Manufacturing Technology Centre,Central Manufacturing Technology Institute, Tumkur Road, Bangalore 560022, India)
資料名： Materials Today: Proceedings  (Materials Today: Proceedings)
巻： 22  号： P4  ページ： 2439-2445  発行年： 2020年 
JST資料番号： W3531A  ISSN： 2214-7853  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノ粒子は,マクロ状態での特性とは異なるユニークな性質のために,種々の分野での応用を見出す結果として,魅力的な性質を持っている。走査トンネル顕微鏡法は,サブA~0範囲の深さと横方向分解能を有する原子スケールでの導電性試料の表面トポグラフィーを研究するために用いられる技術の一つである。STMから得られた画質は,PID利得,バイアス電圧およびセット電流のような多くの走査パラメータに依存し,これらのパラメータは一定ではなく,画像化されている各サンプルに対して変化する。同じ試料に対して,上記の走査パラメータも変化し,それは圧電管挙動ならびに装置に使用されるフィードバック要素に依存する。本論文は,高分解能画像を達成するために,著者らの研究所で開発されたSTMを用いて,金スパッタ試料を画像化するための走査パラメータの確立に焦点を当てた。金スパッタ試料のイメージングのためのパラメータを,パラメータに及ぼす走査面積の影響を含めて確立した。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電流 ,  *金 ,  圧電気 ,  *画像処理 ,  画質 ,  利得 ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  導電性 ,  ナノ粒子
準シソーラス用語： 画像化 ,  *ナノスケール ,  バイアス電圧 ,  高精細画像 ,  表面トポグラフィー ,  原子スケール , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： ナノスケールイメージング ,  走査パラメータ ,  走査型トンネル顕微鏡

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査型トンネル顕微鏡 ,  金 ,  スパッタ ,  試料 ,  研究