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J-GLOBAL ID：202002242596540113   整理番号：20A0827362

繰返し過電流を受ける被覆導体の臨界電流劣化挙動【JST・京大機械翻訳】

Critical Current Degradation Behavior of Coated Conductor Subjected to Repeat Overcurrent

著者 (9件)： Chen Guilun (State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Ren Li (State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Xu Ying (State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Feng Tangyao (State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Liang Siyuan (State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Li Xianhao (State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Li Jingdong (State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Shi Jing (State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Tang Yuejin (State Key Laboratory of Advanced Electromagnetic Engineering and Technology, School of Electrical and Electronic Engineering, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 30  号： 4  ページ： ROMBUNNO.6600406.1-6  発行年： 2020年 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 繰り返し故障の下の超伝導装置の性能劣化は,グリッド操作における超伝導装置の操作のための重要な問題である。高温超伝導(HTS)テープ性能劣化挙動の機構は,理解する必要がある重要な問題である。したがって,繰り返し過電流下でのHTSテープの性能劣化研究を行う必要がある。本論文では,過電流持続時間を考慮して,50Hz正弦波交流下でYBCOテープ上に一連の繰返し過電流実験を行った。繰り返し過電流後のYBCOテープの臨界電流の劣化を記録した。YBCOテープの臨界電流密度を走査し,実験中の試料の構造変化を追跡した。最初の劣化後のYBCOテープの劣化進展の機構を記述した。研究は,HTS装置の故障保護と寿命評価の設計のための参照を提供することができた。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： イットリウムバリウム銅酸化物 ,  正弦波 ,  *臨界電流 ,  超伝導素子 ,  *過電流 ,  臨界電流密度 ,  故障 ,  寿命評価 ,  継続時間
準シソーラス用語： 構造変化 ,  性能劣化 ,  *被覆導体 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 無線通信一般  (ND08010L) ,  パターン認識  (JE07000S) ,  信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 過電流 ,  被覆導体 ,  臨界電流 ,  挙動