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J-GLOBAL ID：202002244396672625   整理番号：20A1262824

有限要素法による経上皮電気抵抗値と測定誤差の電極パターン依存性の解析

Analysis of TEER measurement error depending on electrode patterns using finite element analysis

著者 (5件)： 宮崎貴史 (京大) ,  平井義和 (京大) ,  亀井謙一郎 (京大) ,  土屋智由 (京大) ,  田畑修 (京大)
資料名： 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM)  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan (CD-ROM))
巻： 2020  ページ： ROMBUNNO.3-130  発行年： 2020年03月01日 
JST資料番号： S0653B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・細胞単層のバリア機能を表す経上皮電気抵抗(TEER)のマイ...

シソーラス用語： *電気抵抗 ,...
準シソーラス用語： 形状依存性 ,...

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分類 (1件)： 生体計測  (EL03020C)

タイトルに関連する用語 (6件)： 有限要素法 ,  経上皮電気抵抗 ,  測定誤差 ,  電極パターン ,  依存性 ,  解析