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J-GLOBAL ID:202002247036054784   整理番号:20A1235650

埋め込まれたFドープSnO2/TiO2接合におけるミッドギャップ界面状態に起因する新しい光反射信号

A new photoreflectance signal possibly due to midgap interface states in buried F-doped SnO2/TiO2 junctions
著者 (4件):
資料名:
巻: 59  号: SC  ページ: SCCB23 (5pp)  発行年: 2020年02月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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FドープSnO2とアナターゼTiO2をスプレー熱分解した接合において,250K以上の温度での光反射スペクトルに新たな光学異常を発見した。室温でのこの異常のエネルギー位置は,TiO2のバルク光遷移に関連するものよりもかなり低い。その強度は温度上昇に対して単調に増加する。これらの実験結果は,この新しい異常はTiO2の価電子帯からミッドギャップ界面状態への光転移に由来することを示唆している。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
分類
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酸化物薄膜  ,  13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合 

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