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J-GLOBAL ID：202002247566851008   整理番号：20A1073849

ANSYSに基づくIGBTパワーデバイスのモード解析【JST・京大機械翻訳】

Modal analysis of IGBT power devices based on ANSYS

著者 (6件)： Wang Haojie (Guilin University of Electronic Technology,School of Mechanical & Electrical Engineering,Guilin,China) ,  Liu Dongjing (Guilin University of Electronic Technology,Guilin,China) ,  Fan Yasong (Guilin University of Electronic Technology,School of Mechanical & Electrical Engineering,Guilin,China) ,  Wu Yanchen (Guilin University of Electronic Technology,School of Mechanical & Electrical Engineering,Guilin,China) ,  Qiao Tieliang (Guilin University of Electronic Technology,School of Mechanical & Electrical Engineering,Guilin,China) ,  Yang D.G. (Guilin University of Electronic Technology,School of Mechanical & Electrical Engineering,Guilin,China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： ICEPT  ページ： 1-4  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,振動条件下でのIGBT動作の安定性と信頼性について述べた。最初に,モジュールの構造を,ソイルドワークによって築き上げた。第二に,ANSYS有限要素解析ソフトウェアをプラットフォームとして用いて,構造に関するランダム振動解析を実行した。最後に,合理的な疲れ寿命計算モデルを,Conffin-Manson方程式とMinterの累積損傷則に基づいて構築し,ランダム振動荷重下の溶接層の疲れ寿命を計算した。異なる構造間の溶接層の疲れ寿命の違いを見出し,モデルを最適化した。この結果は,IGBT電力モジュールの最適設計と信頼性設計を導くために,一定の基準値と誘導重要性を提供した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 最適化 ,  不規則振動 ,  *モード解析 ,  信頼性 ,  溶接 ,  信頼性設計 ,  ソフトウェア ,  疲れ寿命 ,  規格値 ,  *IGBT ,  計算モデル
準シソーラス用語： 有限要素解析 ,  *パワーデバイス ,  パワーモジュール ,  *ANSYS , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： NMR一般  (BM07041R) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  医用画像処理  (JE04020T)

タイトルに関連する用語 (4件)： ANSYS ,  IGBT ,  パワーデバイス ,  モード解析