文献

J-GLOBAL ID：202002247632711122   整理番号：20A0911727

圧縮試験応答に関する変動を意識した小遅延故障診断【JST・京大機械翻訳】

Variation-Aware Small Delay Fault Diagnosis on Compressed Test Responses

著者 (5件)： Holst Stefan (Kyushu Institute of Technology,680-4 Kawazu, Iizuka,Japan,820-8502) ,  Schneider Eric (University of Stuttgart,Pfaffenwaldring 47, Stuttgart,Germany,70569) ,  Kochte Michael A. (Kyushu Institute of Technology,680-4 Kawazu, Iizuka,Japan,820-8502) ,  Wen Xiaoqing (Kyushu Institute of Technology,680-4 Kawazu, Iizuka,Japan,820-8502) ,  Wunderlich Hans-Joachim (University of Stuttgart,Pfaffenwaldring 47, Stuttgart,Germany,70569)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： ITC  ページ： 1-10  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 今日のタイトなタイミングマージン,製造変動の増加,およびFinFETにおける新しい欠陥挙動により,有効な収率学習は,作製したチップにおける小さな遅延欠陥の母集団に関する詳細な情報を必要とする。降伏学習のための小遅延故障診断は2つの主要な課題に直面している。(1)生産試験応答は,通常,利用可能な故障データの量を低減し,(2)故障シグネチャは,実際の欠陥に依存するだけでなく,全現在および未知の遅延変動にも依存する。本研究では,圧縮試験応答およびプロセス変動に関するタイミング問題を診断するために特別に設計された非常に最初の診断アルゴリズムを提示した。変分不変構造解析,GPU加速時間シミュレーション,および圧縮試験応答に対する可変耐性症候群マッチングの革新的組合せにより,提案したアルゴリズムが両方の課題に対処することを可能にした。大規模ベンチマーク回路に関する実験は,新しい診断手法のスケーラビリティと優れた精度を明確に実証した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  シミュレーション ,  変分法 ,  構造解析 ,  学習 ,  *故障 ,  *圧縮試験 ,  降伏 ,  母集団 ,  製造試験
準シソーラス用語： プロセス変動 ,  FinFET ,  *遅延故障 ,  診断アルゴリズム ,  ベンチマーク回路 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  音声処理  (JE05000E) ,  パターン認識  (JE07000S) ,  符号理論  (ND02030R) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y)

タイトルに関連する用語 (5件)： 圧縮試験 ,  応答 ,  意識 ,  遅延故障 ,  診断