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J-GLOBAL ID:202002247717623021   整理番号:20A1070631

DIII-Dにおける低Z有質量ガス注入後の崩壊後逃走電子プラトーからのアルゴン排除の研究【JST・京大機械翻訳】

Study of argon expulsion from the post-disruption runaway electron plateau following low-Z massive gas injection in DIII-D
著者 (12件):
資料名:
巻: 27  号:ページ: 042515-042515-9  発行年: 2020年 
JST資料番号: T0641B  ISSN: 1070-664X  CODEN: PHPAEN  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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二次質量低Z(D_2またはHe)ガス注入後のDIII-Dトカマクにおける逃走電子プラトーからのアルゴンの観測された急速な排除を研究するために,1D径方向拡散モデルを開発した。アルゴンの排除は,アルゴンイオンの再結合を伴う付加された中性粒子による背景プラズマのさらなる冷却によって引き起こされることが分かった。また,アルゴンの外向き半径方向輸送速度は,逃走電子ビームの中で大きく増加した。アルゴン排除後,逃走電子プラトーからのパワー損失は,壁への中性輸送(放射によるよりも)により支配されることが分かった。この結果は,逃走電子プラトーからのアルゴン排除に関する以前の研究で強調されたパワーバランスの不一致を解決する。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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核融合装置 

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