Liu Jianhua について
College of Electronic and Optical Engineering and College of Microelectronics, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Liu Jianhua について
National and Local Joint Engineering Laboratory of RF Integration and Micro-Assembly Technology, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Guo Yufeng について
College of Electronic and Optical Engineering and College of Microelectronics, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Guo Yufeng について
National and Local Joint Engineering Laboratory of RF Integration and Micro-Assembly Technology, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Zhang Jun について
College of Electronic and Optical Engineering and College of Microelectronics, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Zhang Jun について
National and Local Joint Engineering Laboratory of RF Integration and Micro-Assembly Technology, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Yao Jiafei について
College of Electronic and Optical Engineering and College of Microelectronics, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Yao Jiafei について
National and Local Joint Engineering Laboratory of RF Integration and Micro-Assembly Technology, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Huang Xiaoming について
College of Electronic and Optical Engineering and College of Microelectronics, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Huang Xiaoming について
National and Local Joint Engineering Laboratory of RF Integration and Micro-Assembly Technology, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Huang Chenyang について
College of Electronic and Optical Engineering and College of Microelectronics, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Huang Chenyang について
National and Local Joint Engineering Laboratory of RF Integration and Micro-Assembly Technology, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Huang Zhi について
College of Electronic and Optical Engineering and College of Microelectronics, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Huang Zhi について
National and Local Joint Engineering Laboratory of RF Integration and Micro-Assembly Technology, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Yang Kemeng について
College of Electronic and Optical Engineering and College of Microelectronics, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Yang Kemeng について
National and Local Joint Engineering Laboratory of RF Integration and Micro-Assembly Technology, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing, 210023, China について
Superlattices and Microstructures について
表層 について
不動態化 について
電位分布 について
簡素化 について
HEMT について
解析モデル について
電荷 について
Laplace方程式 について
Poisson方程式 について
電場 について
ポテンシャル分布 について
フィールドプレート について
複雑性 について
電界分布 について
AlGaN/GaN について
AlGaN/GaN HEMT について
等価ポテンシャル法(EPM) について
解析モデル について
フィールドプレート(FP) について
電場(電界)分布 について
ポテンシャル分布 について
半導体薄膜 について
トランジスタ について
半導体結晶の電気伝導 について
等価 について
ポテンシャル について
ゲート について
FP について
AlGaN について
GaN について
HEMT について
電場分布 について
解析モデル について