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J-GLOBAL ID：202002248949303857   整理番号：20A1186391

異なる電圧級複合碍子のAC汚染フラッシュオーバ性能に及ぼす損傷の影響【JST・京大機械翻訳】

Influence of Sheds Damage on the AC Pollution Flashover Performance of Different Voltage Class Composite Insulators

著者 (3件)： Ming Lu (State Grid Key Laboratory of Power Transmission Line Galloping Prevention and Control Technology, State Grid Henan Electric Power Research Institute, Zhengzhou, China) ,  Yangyang Li (Zhenjiang Power Supply Company, State Grid Jiangsu Electric Power Co., Ltd., Zhenjiang, China) ,  Jianlin Hu (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment and System Security and New Technology, School of Electrical Engineering, Chongqing University, Chongqing, China)
資料名： IEEE Access  (IEEE Access)
巻： 8  ページ： 84713-84719  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2422A  ISSN： 2169-3536  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 複合碍子の高電圧端子の損傷は,碍子のフラッシュオーバ性能に影響を及ぼすことができる。本研究は,異なる電圧レベルでの損傷を持つ複合碍子のフラッシュオーバ特性を調べるために実験的に行った。結果により,損傷は,汚染フラッシュオーバー電圧,クリープ距離フラッシュオーバ電圧勾配E_Lおよび乾燥アーク距離フラッシュオーバ電圧勾配E_Hを減少させ,そして,そのような減少範囲は,損傷度に比例した。その上,複合碍子の乾燥アーク距離の増加によって,汚染フラッシュオーバー電圧,クリープ距離フラッシュオーバ電圧勾配E_L,およびドライアーク距離フラッシュオーバ電圧勾配E_Hに及ぼす与える害の影響は徐々に減少した。0.1mg/cmから0.3mg/cm2までの範囲のESDDで,35kV,110kV,および220kV複合碍子のAC汚染フラッシュオーバー電圧は,それぞれ35.92%,15.03%,9.11%まで減少した。クリープ距離フラッシュオーバ電圧勾配E_Lは,それぞれ19.15%,6.05%,1.34%まで減少した。乾燥アーク距離フラッシュオーバ電圧勾配E_Hは,それぞれ35.92%,15.03%,9.11%まで減少した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： クリープ ,  *電圧 ,  *碍子 ,  圧力勾配 ,  *フラッシュオーバ

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (5件)： 碍子 ,  Ac ,  汚染 ,  フラッシュオーバ ,  損傷