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J-GLOBAL ID：202002249133746538   整理番号：20A2803996

表面増強電子ラマン散乱による電気化学界面のその場計測

In-situ observation of electrochemical interfaces using surface enhanced electronic Raman scattering

著者 (3件)： 磯貝太一 (名古屋工大) ,  本林健太 (名古屋工大) ,  池田勝佳 (名古屋工大)
資料名： 電気化学会大会講演要旨集(CD-ROM)
巻： 87th  ページ： ROMBUNNO.1M04  発行年： 2020年03月03日 
JST資料番号： Y0048B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 1.目的.表面増強ラマン散乱は,可視光をプローブ光として金属表面近傍の化学種を選択的かつ高感度に計測できることから,電極/電解質界面のその場測定に有効な振動分光法である.しかし,表面増強ラマン散乱のスペクトルには常にブロードな背景光が重畳す...【本文一部表示】

シソーラス用語： *計測 ,  *界面 ,  表面増強Raman分光法 ,  *Raman散乱 ,  *表面増強Raman散乱 ,  依存性 ,  サイクリックボルタンメトリー ,  塩化カルシウム ,  基板
準シソーラス用語： *その場計測 ,  金基板 ,  電位依存性 ,  *電極電解質界面 ,  *電子Raman散乱

分類 (2件)： 無機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  (BM08063C) ,  電極過程  (CB07040U)

タイトルに関連する用語 (6件)： 増強 ,  電子 ,  ラマン散乱 ,  電気化学 ,  界面 ,  その場計測