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J-GLOBAL ID：202002249410737997   整理番号：20A1486936

ディジタルゲートドライバにおける最適ゲート駆動ベクトルを見出すための試験コストを最小化するストップアンドゴーゲート駆動【JST・京大機械翻訳】

Stop-and-Go Gate Drive Minimizing Test Cost to Find Optimum Gate Driving Vectors in Digital Gate Drivers

著者 (8件)： Sai Toru (The University of Tokyo,Tokyo,Japan) ,  Miyazaki Koutaro (The University of Tokyo,Tokyo,Japan) ,  Obara Hidemine (Yokohama National University,Kanagawa,Japan) ,  Mannen Tomoyuki (The University of Tokyo,Tokyo,Japan) ,  Wada Keiji (The University of Tokyo,Tokyo,Japan) ,  Omura Ichiro (Kyusyu Institute of Technology,Fukuoka,Japan) ,  Sakurai Takayasu (The University of Tokyo,Tokyo,Japan) ,  Takamiya Makoto (The University of Tokyo,Tokyo,Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： APEC  ページ： 3096-3101  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 能動ゲート駆動は,電力トランジスタのスイッチング損失と電流/電圧オーバシュートの間のトレードオフを解決するのに有効である。しかし,4つの変数を有する従来のデジタルゲートドライバにおける試験コストは,644(ΔΔ1.7x107)組合せ[1]の最適ゲート駆動ベクトルを見つけるのに2000以上の測定が必要とされるので,高い。試験コストを最小化するために,1つの変数だけによるストップアンドゴーゲート駆動を提案した。従来のゲート駆動[1]のIGBTのターンオン/オフ状態におけるスイッチング損失と電流/電圧オーバーシュート,および提案したストップアンドゴーゲート駆動を,異なる負荷電流(20A,50A,および80A)および温度(25°C,75°C,および125°C)を含む9つの条件にわたって6ビットプログラマブルディジタルゲートドライバICを用いて測定し,それらを比較した。提案したストップアンドゴーゲート駆動におけるスイッチング損失と電流/電圧オーバーシュートの性能劣化は,4つの変数[1]で従来のゲート駆動よりも,ターンオン/オフ状態における9つの条件にわたって,それぞれ8%と25%未満である。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電圧 ,  電流 ,  *ベクトル ,  電力トランジスタ ,  ディジタル方式 ,  オーバシュート ,  IGBT ,  ターンオン ,  スイッチング損失
準シソーラス用語： ドライバIC ,  負荷電流 ,  性能劣化 ,  オフ状態 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 音声処理  (JE05000E) ,  符号理論  (ND02030R) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y)

タイトルに関連する用語 (4件)： ゲート ,  ベクトル ,  試験 ,  最小化