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J-GLOBAL ID：202002249678654455   整理番号：20A2648558

二重露光ディジタルホログラフィー干渉法(DEDHI)技術を用いたセラミックタイル中の欠陥の研究【JST・京大機械翻訳】

Investigations of defects in ceramic tiles using Double Exposure Digital Holographic Interferometry (DEDHI) technique

著者 (4件)： Chikode Prashant P. (Department of Physics, Jaysingpur College, Jaysingpur, M.S., 416101, India) ,  Vhatkar Rajiv S. (Department of Physics, Shivaji University, Kolhapur, M.S., 416004, India) ,  Patil Sandip D. (Department of Physics, Devchand College, Arjunnagar, M.S., 591237, India) ,  Fulari Vijay J. (Department of Physics, Shivaji University, Kolhapur, M.S., 416004, India)
資料名： Optik  (Optik)
巻： 219  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0251A  ISSN： 0030-4026  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ガラス化セラミック床タイルは,材料上に残留する保護層を持ち,それらを水および汚れ浸透に不浸透させる。セラミックタイルに見られる典型的な欠陥は剥離である。本論文では,非破壊技術として二重露光ディジタルホログラフィー干渉計(DEDHI)を用いて,典型的なセラミックタイルの剥離と欠陥を検出する問題について述べた。試料タイルとして寸法10cm×12cmの異なる品質(欠陥)の試験片タイルを用いた。これらのタイルは機械的及び熱応力を受け,それらの二重曝露ディジタルインターフェログラムを記録した。ディジタル再構成画像は様々なフリンジパターンを示す。欠陥試料はフリンジパターンに不規則性を示し,フリンジの形状は試料中に存在する欠陥,亀裂および剥離を示した。セラミック試料上の高品質のフリンジパターンを有する干渉縞パターンは,かなり興味深い結果を与えた。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 干渉計 ,  亀裂 ,  浸透 ,  *セラミック ,  熱応力 ,  干渉縞 ,  ホログラフィー干渉法 ,  ディジタル方式
準シソーラス用語： *ディジタルホログラフィー ,  高品質 ,  *二重露光 ,  *セラミックタイル ,  再構成画像 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 剥離 ,  非破壊検査 ,  セラミックタイル ,  剥離 ,  ディジタルホログラフィー干渉法

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 二重露光 ,  ディジタル ,  ホログラフィー干渉法 ,  セラミックタイル ,  欠陥 ,  研究