文献

J-GLOBAL ID：202002249697050393   整理番号：20A1439317

PIXE応用のためのTlBr半導体検出器の実現可能性研究【JST・京大機械翻訳】

Feasibility study of TlBr semiconductor detectors for PIXE applications

著者 (7件)： Nogami Mitsuhiro (Department of Quantum Science and Energy Engineering, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Sendai 980-8579, Japan) ,  Hitomi Keitaro (Department of Quantum Science and Energy Engineering, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Sendai 980-8579, Japan) ,  Onodera Toshiyuki (Department of Electrical and Electronic Engineerings, Tohoku Institute of Technology, Sendai 982-8577, Japan) ,  Matsumoto Kio (Department of Applied Energy Engineering, Graduate School of Engineering, Nagoya University, Nagoya 464-8603, Japan) ,  Watanabe Kenichi (Department of Applied Energy Engineering, Graduate School of Engineering, Nagoya University, Nagoya 464-8603, Japan) ,  Terakawa Atsuki (Cyclotron and Radioisotope Center, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Ishii Keizo (Cyclotron and Radioisotope Center, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 477  ページ： 43-45  発行年： 2020年 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： PIXE応用のための半導体検出器をTlBr結晶を用いて作製した。TlBr検出器は,正孔トラッピングによるパルス高さ損失を最小化するための多重電極検出器設計を有した。タリウム金属を含む電極をTlBr検出器に用いて分極現象を抑制した。-50°Cで動作するTlBr検出器に対して,5.9,22.1および59.5keV光子に対して,それぞれ,2.4,3.3および3.8keV FWHMのエネルギー分解能を得た。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 光子 ,  正孔 ,  *半導体検出器 ,  分極 ,  タリウム ,  X線スペクトロメータ ,  多重化 ,  パルス ,  検出器 ,  実用化試験 ,  半導体放射線検出器 ,  エネルギー分解能 ,  FWHM ,  トラッピング処理
準シソーラス用語： トラッピング , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 臭化タリウム ,  X線スペクトロメータ ,  粒子誘起X線放出 ,  半導体放射線検出器

分類 (5件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J) ,  X線との相互作用  (BK16030H) ,  線量計測・計測器  (AD08050Q) ,  X線技術  (BA02060D) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： PIXE ,  応用 ,  半導体検出器 ,  実現可能性 ,  研究