文献

J-GLOBAL ID：202002249871618459   整理番号：20A2528196

ACおよびDC複合磁化に基づく新しい磁束漏れ試験法【JST・京大機械翻訳】

A Novel Magnetic Flux Leakage Testing Method Based on AC and DC Composite Magnetization

著者 (5件)： Wang Rongbiao (State Key Lab of Digital Manufacturing Equipment & Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Kang Yihua (State Key Lab of Digital Manufacturing Equipment & Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Tang Jian (State Key Lab of Digital Manufacturing Equipment & Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Feng Bo (State Key Lab of Digital Manufacturing Equipment & Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China) ,  Deng Yongle (State Key Lab of Digital Manufacturing Equipment & Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, China)
資料名： Journal of Nondestructive Evaluation  (Journal of Nondestructive Evaluation)
巻： 39  号： 4  ページ： 84  発行年： 2020年 
JST資料番号： B0912B  ISSN： 0195-9298  CODEN： JNOED5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： フレキシブルプリントコイルアレイ(FPC)は,非破壊試験(NDT)における柔軟性のため,広く採用されている。誘導コイルを磁束漏れ試験(MFL)の静的条件下で外部と内部欠陥の両方を検出するために,本論文はACとDC複合磁化に基づく方法を提案した。AC磁化は外部欠陥近傍の磁場強度を変化させる。DC磁化は欠陥を静的漏洩磁場を発生させる。スキン層の透過性も,内部欠陥に起因する漏洩磁場の透過に影響するAC磁化によって変化した。したがって,外部および内部欠陥は時変漏洩磁場を発生できる。この方法の実現可能性を検証するためにシミュレーションと実験を行った。結果は,ACとDC複合磁化に基づく方法が外部と内部欠陥の両方を検出するのに適用できることを示した。Copyright Springer Science+Business Media, LLC, part of Springer Nature 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *磁化 ,  磁気遮蔽 ,  柔軟性 ,  浸透率 ,  内部欠陥 ,  非破壊検査 ,  *漏れ磁束
準シソーラス用語： 試験方法 ,  磁場強度 ,  透過性 ,  誘導コイル ,  漂遊磁場 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 複合磁化 ,  磁気遮蔽 ,  MFL ,  内部欠陥 ,  浸透性

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： Ac ,  DC ,  磁化 ,  磁束漏れ ,  試験法