Luo Taiming について
Department of Physics and Energy, Chongqing University of Technology, Chongqing 400054, PR China について
Wei Jianwei について
Department of Physics and Energy, Chongqing University of Technology, Chongqing 400054, PR China について
Wei Jianwei について
Chongqing Key Laboratory of Modern Photoelectric Detection Technology and Instrument, Chongqing 400054, PR China, Tel.: +86 23 6256 3055 について
Yang Xiaozhan について
Department of Physics and Energy, Chongqing University of Technology, Chongqing 400054, PR China について
Yang Xiaozhan について
Chongqing Key Laboratory of Modern Photoelectric Detection Technology and Instrument, Chongqing 400054, PR China について
Wang Daoyuan について
Department of Chemistry and Physics, University of Arkansas at Pine Bluff, Pine Bluff, AR 71601, USA について
Feng Wenlin について
Department of Physics and Energy, Chongqing University of Technology, Chongqing 400054, PR China について
Feng Wenlin について
Chongqing Key Laboratory of Modern Photoelectric Detection Technology and Instrument, Chongqing 400054, PR China, Tel.: +86 23 6256 3055 について
Zeitschrift fuer Naturforschung A について
Ramanスペクトル について
干渉 について
赤方偏移 について
走査電子顕微鏡 について
銅 について
動的応答 について
被覆 について
硫化水素 について
硫化 について
Michelson干渉計 について
密度汎関数法 について
X線光電子分光法 について
Raman分光法 について
フォトニック結晶ファイバ について
還元型酸化グラフェン について
ガスセンサ について
Michelson干渉計 について
フォトニック結晶ファイバ について
還元酸化グラフェン について
センシング膜 について
その他の無機化合物のEPR について
絶縁体結晶の電子構造 について
Cu について
RGO について
フォトニック結晶ファイバ について
Michelson干渉計 について
痕跡 について
硫化水素ガスセンサ について