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J-GLOBAL ID：202002250298074227   整理番号：20A2230088

43-2:有機EL元素の分解分析への液体抽出表面分析(LESA)-ナノESI-Orbitrap-MSの適用【JST・京大機械翻訳】

43-2: Application of Liquid Extraction Surface Analysis (LESA)-NanoESI-Orbitrap-MS to a Degradation Analysis of Organic EL Elements

著者 (5件)： Takano Hikaru (Toray Research Center, Inc., Shiga, Japan) ,  Akiyama Tsuyoshi (Toray Research Center, Inc., Shiga, Japan) ,  Shioji Hirotaka (Toray Research Center, Inc., Shiga, Japan) ,  Shibamori Takahiro (Toray Research Center, Inc., Shiga, Japan) ,  Muraki Naoki (Toray Research Center, Inc., Shiga, Japan)
資料名： Digest of Technical Papers. SID International Symposium (Society for Information Display)  (Digest of Technical Papers. SID International Symposium (Society for Information Display))
巻： 51  号： 1  ページ： 626-629  発行年： 2020年 
JST資料番号： E0907A  ISSN： 0097-966X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 液体抽出表面分析(LESA)-NanoESI-Orbitrap質量分析を小分子ベースのOLEDデバイスに初めて適用した。ナノESIは不安定な金属錯体の分子イオンを検出することができ,LESAは電極で覆われたTPBiの劣化した化学種を検出できることを明らかにした。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 質量分析 ,  金属錯体 ,  *表面分析 ,  小分子 ,  化学種
準シソーラス用語： 分子イオン ,  *有機EL ,  *Orbitrap , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： LESA ,  ナノESI-Orbitrap-MS ,  MS/MS ,  電極成形

分類 (3件)： 質量分析  (CC03013N) ,  有機化合物の各種分析  (CC08034J) ,  有機化合物の物理分析  (CC03034A)

タイトルに関連する用語 (5件)： 有機EL ,  元素 ,  分解分析 ,  表面分析 ,  Orbitrap