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J-GLOBAL ID：202002250687382149   整理番号：20A1230844

STMの試料面積と精度の関係: 定量的元素分析における困難さの原因

Relation between Sample Area and Accuracy of STM: What Causes the Difficulty in Quantitative Elemental Analysis?

著者 (6件)： Tanaka Ryohei (Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University) ,  Kishimoto Tetsuya (Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University) ,  Yoshimura Takayuki (Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University) ,  Kurokawa Shu (Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University) ,  Sakai Akira (Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University) ,  Kawai Jun (Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University)
資料名： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))
巻： 18  ページ： 28-31(J-STAGE)  発行年： 2020年 
JST資料番号： U0016A  ISSN： 1348-0391  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： モンテカルロ数値シミュレーションを行い,走査トンネル顕微鏡(STM)のような原子分解能顕微鏡が定量的に元素のppm(100万分の1)濃度を正確に与えることができない理由を明らかにした。サンプリング量と精度の間の関係を見出した。49及び50ppmの元素濃度を識別するために少なくとも10⁹原子をサンプリングする必要がある。また,このモンテカルロ結果をICPAES(誘導結合プラズマ原子発光分光測定)やTXRF(全反射X線蛍光)のような元素分析法に適用し,定量元素分析の必要な精度のための適切な量のサンプリング量を明らかにした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,  分解能 ,  *元素分析 ,  定量分析 ,  *試料採取 ,  測定精度 ,  シミュレーション ,  モンテカルロ法 ,  ICP-AES分析 ,  蛍光X線分析 ,  全反射 ,  原子間力顕微鏡 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  モンテカルロシミュレーション ,  数値シミュレーション ,  全反射蛍光X線分析
準シソーラス用語： AFM【顕微鏡】 ,  SPM【顕微鏡】 ,  STM【顕微鏡】 ,  TXRF ,  サンプリング【試料採取】 ,  原子分解能 ,  誘導結合プラズマ原子発光分光法

著者キーワード (5件)： 原子分解能顕微鏡 ,  定量的元素分析 ,  STM ,  AFM ,  TXRF

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  分析機器  (CC02020S)

引用文献 (14件)：

• [1] S. Hoornaert, B. Treiger, V. Valkovic, and R. Van Grieken, Mikrochim. Acta 128, 207 (1998).
• [2] C.-U. Ro, S. Hoornaert, and R. Van Grieken, Anal. Chim. Acta 389, 151 (1999).
• [3] V. Ya. Borkhodoev, X-Ray Spectrom. 39, 28 (2010).
• [4] P. J. Potts, A. G. Tindle, and M. C. Isaacs, Am. Mineral. 68, 1237 (1983).
• [5] A. P. Marques, M. C. Freitas, H. Th. Wolterbeek, T. G. Verburg, and J. J. M. De Goeij, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 255, 380 (2007).

タイトルに関連する用語 (7件)： STM ,  試料 ,  面積 ,  定量 ,  元素分析 ,  困難さ ,  原因