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J-GLOBAL ID：202002252016321034   整理番号：20A0790454

BiFeO_3/Sr_2Bi_4Ti_5O_18二層複合薄膜の特性に及ぼすSr_2Bi_4Ti_5O_18遷移層の厚さの影響【JST・京大機械翻訳】

Effect of the thickness of Sr₂Bi₄Ti₅O₁₈ transition layer on the properties of BiFeO₃/Sr₂Bi₄Ti₅O₁₈ bilayer composite thin films

著者 (11件)： Zhao Xuefeng (School of Materials Science and Engineering Shandong Jianzhu University, Jinan, 250101, Shandong, China) ,  Liu HuiYing (School of Materials Science and Engineering Shandong Jianzhu University, Jinan, 250101, Shandong, China) ,  Pan Xiaoyue (School of Materials Science and Engineering Shandong Jianzhu University, Jinan, 250101, Shandong, China) ,  Wang LingXu (School of Materials Science and Engineering Shandong Jianzhu University, Jinan, 250101, Shandong, China) ,  Feng Zhe (School of Materials Science and Engineering Shandong Jianzhu University, Jinan, 250101, Shandong, China) ,  Guo Xiaodong (Shandong Women’s University, Jinan, 250300, Shandong, China) ,  Shen Peng (School of Materials Science and Engineering Shandong Jianzhu University, Jinan, 250101, Shandong, China) ,  Ma Zhibiao (School of Materials Science and Engineering Shandong Jianzhu University, Jinan, 250101, Shandong, China) ,  Zhang Fengqing (School of Materials Science and Engineering Shandong Jianzhu University, Jinan, 250101, Shandong, China) ,  Tian Qingbo (School of Materials Science and Engineering Shandong Jianzhu University, Jinan, 250101, Shandong, China) ,  Fan Suhua (Shandong Women’s University, Jinan, 250300, Shandong, China)
資料名： Ceramics International  (Ceramics International)
巻： 46  号： 8 PA  ページ： 10536-10544  発行年： 2020年 
JST資料番号： H0705A  ISSN： 0272-8842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： BiFeO_3(BFO)/Sr_2Bi_4Ti_5O_18(SBT)二層複合薄膜をゾル-ゲル法を用いて調製した。BO/SBT二層複合薄膜の特性に及ぼすSBT転移層厚の影響を研究した。結果は,適切な厚さのSBT遷移層がBFO/SBT二層複合膜性能を改善できることを示した。X線回折(XRD)分析は,ビスマス層状ペロブスカイト構造がすべての薄膜に形成されることを明らかにした。走査電子顕微鏡(SEM)結果は,BFO/80nmSBTサンプルが,他のサンプルと比較して,良好な結晶化,改善された密度,および均一な最小粒径を示すことを示した。X線光電子分光法(XPS)の結果は,Fe2+含有量と酸素空孔濃度がBFO/80nm SBT試料で最低であることを示した。この試料は良好な強誘電特性を有し,漏れ電流密度は350kV/cm,2Ec=900kV/cm,2Pr=151μC/cm2の試料の中でJ=5.21×10~5A/cm2の最低値を示した。低電場(E<100kV/cm)では,薄膜の漏れ機構はオーム伝導であり,Fowler-Nordheim(F-N)トンネリング効果は高電場(E>100kV/cm)で観測された。相対誘電率(εr)は121で,誘電損失(tanδ)は10~5Hzで0.024であった。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線回折 ,  結晶化 ,  走査電子顕微鏡 ,  電場 ,  電子顕微鏡観察 ,  トンネル効果 ,  *薄膜 ,  誘電損失 ,  誘電率 ,  ビスマス ,  X線回折分析 ,  強誘電性 ,  層厚 ,  ゾル-ゲル法 ,  複合膜 ,  損失正接
準シソーラス用語： 酸素空格子点 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： BFO/SBT ,  遷移層厚 ,  電気性能 ,  XPS

分類 (2件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (4件)： 二層 ,  薄膜 ,  遷移層 ,  厚さ