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J-GLOBAL ID：202002252384894417   整理番号：20A0207627

その場共鳴非弾性X線散乱研究のための波長分散型X線スペクトロメータ【JST・京大機械翻訳】

A wavelength-dispersive X-ray spectrometer for in/ex situ resonant inelastic X-ray scattering studies

著者 (10件)： Mei Bingbao (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China) ,  Mei Bingbao (University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China) ,  Gu Songqi (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China) ,  Du Xianlong (Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China) ,  Li Zhongliang (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China) ,  Cao Hanjie (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China) ,  Cao Hanjie (University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China) ,  Song Fei (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China) ,  Huang Yuying (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China) ,  Jiang Zheng (Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, China)
資料名： X-Ray Spectrometry  (X-Ray Spectrometry)
巻： 49  号： 1  ページ： 251-259  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0456B  ISSN： 0049-8246  CODEN： XRSPAX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 上海シンクロトロン放射施設(SSRF)のBL14W1-X線吸収微細構造(XAFS)ビームラインにおける/ex situ共鳴非弾性X線散乱(RIXS)研究のためのvon Hamos幾何学に基づく波長分散X線分光計を報告した。分光計の設計考察と操作特性を詳細に記述した。Si(444)湾曲結晶を用いて,分光計は8~9keVのエネルギー範囲を提供し,いくつかの遷移金属錯体のK端X線分光法の測定といくつかの5d遷移金属錯体のL端X線分光法を可能にした。von Hamos幾何学に基づいて,RIXSの収集プロセスはかなり簡素化される。スペクトル分解能を必要とするタングステン試料の完全RIXS面の収集を示し,装置のスペシエーション能力を実証した。研究モデルとして二酸化炭素電気化学還元用の一連の酸化物由来銅触媒を用いて,その場RIXSを測定し,電子構造の動的変化を調べた。最後に,その場RIXSとその場通常のXAFSとの比較を示し,RIXSのより競争的なスペクトル分解能を実証した。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 簡素化 ,  銅触媒 ,  カソード還元 ,  分光計 ,  遷移金属錯体 ,  幾何学 ,  XAFS ,  スペシエーション ,  スペクトル分解 ,  二酸化炭素 ,  電子構造 ,  タングステン ,  X線分光法 ,  *X線スペクトロメータ ,  ビームライン

分類 (1件)： その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 共鳴非弾性X線散乱 ,  研究 ,  波長分散 ,  X線スペクトロメータ