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J-GLOBAL ID：202002253048421197   整理番号：20A0030844

レーザプラズマ軟X線源に基づく小型実験室システムを用いたチタンL_III端のEXAFS【JST・京大機械翻訳】

EXAFS of titanium L_III edge using a compact laboratory system based on a laser-plasma soft X-ray source

著者 (5件)： Wachulak P. (Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, Warsaw, Poland) ,  Fok T. (Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, Warsaw, Poland) ,  Bartnik A. (Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, Warsaw, Poland) ,  Janulewicz K. A. (Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, Warsaw, Poland) ,  Fiedorowicz H. (Institute of Optoelectronics, Military University of Technology, Warsaw, Poland)
資料名： Applied Physics. B. Lasers and Optics  (Applied Physics. B. Lasers and Optics)
巻： 126  号： 1  ページ： 1-9  発行年： 2020年 
JST資料番号： E0501B  ISSN： 0946-2171  CODEN： APBOEM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： レーザプラズマ軟X線(SXR)源に基づくコンパクトな実験室システムをL_III吸収端近傍のチタンの拡張X線吸収微細構造(EXAFS)分光法に適用した結果を示した。クリプトン/ヘリウム二重流ガス-パフターゲットを照射した結果として生成したプラズマで動作するソースを,200~700eVの間のスペクトル範囲における強い発光に対して最適化した。EXAFS研究では,広いSXRスペクトルと高い光子フラックスが不可欠である。実験装置は,参照と吸収スペクトルの両方の同時取得を保証した。すれすれ入射フラットフィールド分光計を用いてスペクトルを記録した。薄い(200nm厚さ)チタン試料の吸収スペクトルは,EXAFS領域における特徴を明らかにし,原子間の半径方向距離の非常に正確な決定を可能にした。結果は光電子波動関数散乱に基づく数値モデリングの出力と良く一致し,シンクロトロン源を用いて報告されたデータと一致した。これにより,標準EXAFS法におけるそれを用いるためのソースの適合性を確認した。Copyright 2019 Springer-Verlag GmbH Germany, part of Springer Nature Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： すれすれ入射 ,  *プラズマ ,  *チタン ,  スペクトル ,  *レーザプラズマ ,  吸収端 ,  最適化 ,  波動関数 ,  光子 ,  シンクロトロン ,  *軟X線 ,  光電子 ,  分光計 ,  *EXAFS ,  散乱

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (5件)： レーザプラズマ ,  軟X線 ,  実験室 ,  チタン ,  EXAFS