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J-GLOBAL ID:202002254000531022   整理番号:20A2535161

Alcator C-Modスクレイプオフ層における間欠的ゆらぎのミラーLangmuirプローブとガスパフイメージング測定の比較【JST・京大機械翻訳】

Comparison between mirror Langmuir probe and gas-puff imaging measurements of intermittent fluctuations in the Alcator C-Mod scrape-off layer
著者 (8件):
資料名:
巻: 86  号:ページ: 905860519  発行年: 2020年 
JST資料番号: B0867A  ISSN: 0022-3778  CODEN: JPLPBZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Alcator C-Modトカマクのオーム加熱プラズマにおけるスクレイピーオフ層プラズマ変動の統計的性質を調べた。初めて,プラズマ変動および変動を記述するパラメータを,同じプラズマ放電をサンプリングする,ミラーLangmuirプローブ(MLP)およびガスパフイメージング(GPI)からの測定を通して比較した。この比較はMLP電子密度と温度測定から合成した線発光時系列データの解析によって補完された。MLPとGPIによって観測された変動は,正に歪んだと平らかな確率密度関数と共に,一次1の相対的な変動振幅を典型的に表示する。そのようなデータ時系列は,非相関,2側面指数パルスの重ね合わせとしてデータをモデル化する確立された確率的フレームワークによってよく記述される。プロセスの最も重要なパラメータは間欠性パラメータである[数式:原文を参照]であり,そこでは[数式:原文を参照]が単一パルスの継続時間を示し,[数式:原文を参照]は連続パルス間の平均待ち時間を与える。ここでは,新しいデコンボリューション法を用いて,これらのパラメータをデータの異なる統計から一貫して推定できることを示した。また,MLPとGPI診断によってサンプリングされたデータの統計的特性は,非常に類似していることを示した。最後に,MLPによりサンプリングしたプラズマパラメータのみを用いた合成GPI信号は,測定したGPI信号から定性的に異なる変動統計を示した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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