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J-GLOBAL ID：202002254900244513   整理番号：20A2258706

O=O形状低損失負群遅延マイクロストリップ回路【JST・京大機械翻訳】

O=O Shape Low-Loss Negative Group Delay Microstrip Circuit

著者 (4件)： Wan Fayu (Electronics and Information Engineering College, Nanjing University of Information Science and Technology, Nanjing, China) ,  Li Ningdong (Electronics and Information Engineering College, Nanjing University of Information Science and Technology, Nanjing, China) ,  Ravelo Blaise (Electronics and Information Engineering College, Nanjing University of Information Science and Technology, Nanjing, China) ,  Ge Junxiang (Electronics and Information Engineering College, Nanjing University of Information Science and Technology, Nanjing, China)
資料名： IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs  (IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs)
巻： 67  号： 10  ページ： 1795-1799  発行年： 2020年 
JST資料番号： W0347A  ISSN： 1549-7747  CODEN： ITCSFK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： O=O幾何学的形状を示す負のグループ遅延(NGD)トポロジーの革新的設計を扱った。この完全分散NGDトポロジーは,損失と遅延伝送線(TL)で構築された電力分割器(PWD),パワーコンバイン(PWC)と結合線(CL)から成る。PWDとPWCはCLを介して接続される。3ポートPWDとPWC,4ポートCL S行列を用いて,グループ遅延(GD)を決定することができるO=Oトポロジーモデルを確立した。O=OトポロジーのNGD側面を検証するために,TL特性インピーダンスと遅延に関するパラメータ解析を行った。さらに,マイクロストリップ回路プロトタイプを設計し,シミュレートし,測定した。中心周波数1.2GHz付近で約2.8nsのNGDレベルを有する良好なNGD性能は,約-2.2dBの透過係数と-15dBより良い反射係数を持つ。測定結果は,計算モデルとシミュレーションと良く一致した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 位相幾何学 ,  反射率 ,  特性インピーダンス ,  伝送線路 ,  *群遅延特性 ,  透過率 ,  ポート ,  パワーデバイダ ,  計算モデル ,  プロトタイプ
準シソーラス用語： 幾何形状 ,  パラメトリック解析 ,  中心周波数 ,  *マイクロストリップ回路 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 無線通信一般  (ND08010L) ,  マイクロ波・ミリ波通信  (ND08020W) ,  情報工学基礎理論一般  (JB01000T) ,  計算機システム開発  (JD02010R) ,  光通信方式・機器  (ND10000B)

タイトルに関連する用語 (3件)： 低損失 ,  群遅延 ,  マイクロストリップ回路