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J-GLOBAL ID:202002255537063594   整理番号:20A0647281

ランダム表面トポグラフィーとその界面スペックル場の間の対応に関する研究【JST・京大機械翻訳】

Study on the correspondence between random surface topography and its interface speckle field
著者 (7件):
資料名:
巻: 462  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: A0678B  ISSN: 0030-4018  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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スペックル場に基づくランダム表面の情報を抽出することは,非破壊測定の重要な部分である。著者らの知る限りでは,ランダム表面の地形とそのスペックル場の間の対応を強調した。本論文では,有限差分時間領域(FDTD)平滑化ソフトウェアを用いて,界面スペックル場と呼ばれるランダム表面の最大高さの位置におけるスペックル場を計算した。界面スペックル場も実験的に抽出した。結果は理論計算と一致した。界面スペックル場の物理量とランダム表面のトポグラフィーの間の対応,および対応に及ぼす様々な因子の影響を詳細に検討した。研究は,ランダム表面の横相関長さまたは入射光の波長が増加するとき,ランダム表面の粗さまたは屈折率が減少するとき,対応が改善されることを示した。ランダム表面のトポグラフィーは,その屈折率が小さいかその粗さがナノメータのオーダーであるとき,その界面スペックル場の位相分布とほとんど同じである。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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干渉測定と干渉計  ,  光の散乱,回折,干渉 
タイトルに関連する用語 (4件):
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