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J-GLOBAL ID:202002255618521462   整理番号:20A1938760

高感度による偏光および波長依存シェル分離ナノ粒子増強和周波数発生【JST・京大機械翻訳】

Polarization- and Wavelength-Dependent Shell-Isolated-Nanoparticle-Enhanced Sum-Frequency Generation with High Sensitivity
著者 (8件):
資料名:
巻: 125  号:ページ: 047401  発行年: 2020年 
JST資料番号: H0070A  ISSN: 0031-9007  CODEN: PRLTAO  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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Sum-周波数発生(SFG)分光法は,表面分析のための非常に多目的なツールである。分子当たりのSFG強度を改善することは,動的系における表面化学種と中間体の低濃度を観測するのに重要である。ここでは,シェル-Isolated-Nano粒子-Enhanced SFG(SHINE-SFG)を用いてモデル基質をプローブした。モデル基質,p-メルカプトベンゾニトリルは,上部に堆積したSHINsを有するAu膜上に吸着し,[数式:原文を参照]までの増強因子を提供した。波長および偏光依存性SHINE-SFG分光法を通して,信号増強の大部分はプラズモン増強発光および化学的増強機構の両方に由来することが分かった。また,新しい増強領域,すなわち,差分周波数発生によるSHINE-SFGの非線形結合を同定した。この新規機構は,非線形コヒーレント分光法の増強と,カップリングプロセスを利用した基板増強の合理的な設計に対する可能な戦略の洞察を提供する。Copyright 2020 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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非線形光学 

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