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J-GLOBAL ID:202002255669275115   整理番号:20A1081575

レーザアブレーションにより成長させたシリコン薄膜の光ルミネセンスとRaman分光法【JST・京大機械翻訳】

Photoluminescence and Raman spectroscopy of silicon thin films grown by laser ablation
著者 (4件):
資料名:
巻: 102  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: W0468A  ISSN: 0925-3467  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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石英基板上にレーザアブレーション法によりシリコン薄膜を作製した。シリコン膜と圧力および温度依存性に及ぼす熱アニーリングの影響は,シリコン(Si)薄膜の光ルミネセンス(PL)スペクトルの異常な挙動を示した。3.0eV(400nm)付近の強いPLエネルギーバンドが室温で熱アニーリング後に観察された。試料のRamanスペクトルは,520cm-1の結晶Si光学フォノンと比較して,517cm-1にシフトした非対称ピークを示した。フォノン線の広がり(7cm-1)も観測された。これらの結果はRaman活性光学フォノンに対するqベクトル選択則の緩和と良く一致した。膜を構成する粒子のサイズを推定するために,フォノン閉込めモデルを用いて赤方偏移非対称Raman線形状を当てはめた。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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酸化物薄膜  ,  無機化合物のルミネセンス 
タイトルに関連する用語 (5件):
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