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J-GLOBAL ID：202002255937711733   整理番号：20A0032463

メモリ応用のための新しい小型SEC-DED-DAECコード【JST・京大機械翻訳】

New Compact SEC-DED-DAEC Code for Memory Applications

著者 (3件)： Maity Raj Kumar (Haldia Institute of Technology, Haldia, India) ,  Samanta Jagannath (Haldia Institute of Technology, Haldia, India) ,  Bhaumik Jaydeb (Department of ETCE, Jadavpur University, Kolkata, India)
資料名： Lecture Notes in Electrical Engineering  (Lecture Notes in Electrical Engineering)
巻： 602  ページ： 321-329  発行年： 2020年 
JST資料番号： W5070A  ISSN： 1876-1100  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： より高い容量,より小さいサイズ,および信頼できるメモリの需要は,時間とともに半導体技術の連続的スケーリングによって増加している。しかし,メモリの信頼性は,放射線効果に起因するソフトエラーにより大きく影響される。これらのソフトエラーは,メモリの1つまたは複数のセルに保存されたデータの崩壊をもたらす。誤り訂正符号(ECCs)は,メモリにおけるソフトエラーの影響を緩和するために頻繁に使用される。単一誤り訂正二重誤り検出(SEC-DED-DAEC)符号は,多重ビットアップセット(MBU)がメモリで発生するときに使用される一般的に知られたECC方式の1つである。本論文では,メモリ応用のための新しいSEC-DED-DAECコードを提案した。提案した符号器は,メモリ応用において頻繁に使用されるいくつかの共通単語長のためにFPGAプラットフォームにおいて設計され,合成された。提案したコードの性能を他の関連研究と比較した。提案した符号器は,既存の符号器と比較してより少ない面積を必要とする。Copyright 2020 Springer Nature Singapore Pte Ltd. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ECCS ,  誤り訂正符号 ,  符号器 ,  誤り検出 ,  ソフトエラー ,  単語 ,  信頼性 ,  *記憶装置 ,  FPGA ,  放射線効果
準シソーラス用語： 多重ビットアップセット ,  単一誤り , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 記憶 ,  ソフトエラー ,  ECCS ,  SEC-DED-DAEC ,  FPGA

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (1件)： 応用