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J-GLOBAL ID：202002256315296396   整理番号：20A1605329

小角X線散乱法によるFe-LiF混合薄膜正極のナノ構造解析

Nano-Structure Analysis of Fe-LiF Mixed Thin Film Cathodes by Small-angle X-ray Scattering Method

著者 (6件)： 堀博伸 (九大 先導研) ,  HWANG Jinkwang (京大 大学院) ,  田和慎也 (京大 大学院) ,  松本一彦 (京大 大学院) ,  萩原理加 (京大 大学院) ,  岡田重人 (九大 先導研)
資料名： 電池討論会PDF要旨集(CD-ROM)  (電池討論会要旨集(CD-ROM))
巻： 60th  ページ： ROMBUNNO.1A05  発行年： 2019年 
JST資料番号： L1273B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 本研究では,Fe-LiF薄膜カソードにおけるSAXS測定を研究した。Fe-L...【JST・京大機械翻訳】【本文一部表示】

シソーラス用語： *小角X線散乱 ,  フッ化物 ,  鉄化合物 ,  リチウム化合物 ,  ナノ構造 ,  スピノーダル分解 ,  電極材料 ,  充放電サイクル ,  *カソード ,  イオン液体 ,  *二次電池 ,  フッ化鉄 ,  *カソード材料【電池】

分類 (2件)： 二次電池  (YB04030K) ,  その他の電気・電子部品  (NA05090R)

タイトルに関連する用語 (6件)： 小角X線散乱 ,  Fe ,  LIF ,  薄膜 ,  正極 ,  構造解析