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J-GLOBAL ID：202002256638910664   整理番号：20A2117888

ラインセンサカメラと自動外観検査の進化 ハイパースペクトルカメラによる膜厚計測システム

Film thickness measurement system with a hyperspectral camera

著者 (1件)： 田口都一 (大塚電子)
資料名： 画像ラボ  (Image Laboratory)
巻： 31  号： 10  ページ： 60-64  発行年： 2020年10月10日 
JST資料番号： L2340A  ISSN： 0915-6755  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： フィルム製造工程において全面膜厚検査を可能にする当社製品「ラインスキャン膜厚計」を紹介し,従来の膜厚検査システムとの違いや本製品の特長を解説する。(著者抄録)

シソーラス用語： *カメラ ,  *撮像装置 ,  *外観検査 ,  *厚み測定 ,  *膜厚 ,  一次元 ,  光センサ ,  走査 ,  自動化 ,  スペクトル画像 ,  画像分析
準シソーラス用語： ハイパースペクトルカメラ ,  フィルム ,  *ラインセンサカメラ ,  膜厚計測

分類 (3件)： 撮像・録画装置  (ND12032E) ,  品質検査  (KB04020L) ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (5件)： ラインセンサカメラ ,  外観検査 ,  進化 ,  ハイパースペクトルカメラ ,  膜厚計測