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J-GLOBAL ID：202002257080936979   整理番号：20A2550213

CPV用ライトパイプ:側壁損失メカニズムのシミュレーションと測定【JST・京大機械翻訳】

Light pipes for CPV: Simulation and measurement of sidewall loss mechanisms

著者 (2件)： Madsen Christi K. (Department of Electrical and Computer Engineering, Texas A&M University, College Station, TX 77843, USA) ,  Lin Jianlong (Department of Electrical and Computer Engineering, Texas A&M University, College Station, TX 77843, USA)
資料名： AIP Conference Proceedings  (AIP Conference Proceedings)
巻： 2298  号： 1  ページ： 020006-020006-6  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0071C  ISSN： 0094-243X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 幾何学的光学近似(GOA)を用いて,プロフィルメータ測定側壁粗さをパラメータ化するために,二乗平均平方根(RMS)傾斜を使用する側壁粗さによる光パイプの散乱損失をモデル化した。500nmから700nmの波長範囲で測定した損失に対するシミュレーション損失対入射角を比較した。フェムト秒レーザ照射とそれに続く選択的エッチングおよびCO_2レーザ研磨を用いて,長さ70mmまでシリカ光パイプを作製した。表面プロフィルメータ測定に基づいて,平均局所角偏差0.86度に対応する0.015の二乗平均平方根勾配を推定した。表面散乱損失に加えて,過剰な表面損失を導入した。測定データに対するシミュレーションのフィッティングは,作製した光管に対して99.5%の反射率の推定値を提供した。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： エッチング ,  研磨 ,  散乱 ,  *シミュレーション ,  反射率 ,  二酸化ケイ素 ,  表面散乱 ,  近似法 ,  プロフィルメータ ,  *ライトパイプ ,  表面粗さ ,  実効値 ,  推定量 ,  パラメタリゼーション ,  フェムト秒レーザ

分類 (1件)： 光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (5件)： ライトパイプ ,  側壁 ,  損失 ,  メカニズム ,  シミュレーション