文献

J-GLOBAL ID：202002258470696409   整理番号：20A2666656

国産SoCデバイスシミュレーション部分試験技術研究【JST・京大機械翻訳】

Research on Test Technology of An Analog Part in A Home-made SoC Device

著者 (6件)： Li Mingming (中国運載火箭技術研究院物流中心,北京100076) ,  Zhao Yanfei (中国運載火箭技術研究院物流中心,北京100076) ,  Liu Sijia (中国運載火箭技術研究院物流中心,北京100076) ,  He Zhongming (中国運載火箭技術研究院物流中心,北京100076) ,  Liu Kai (中国運載火箭技術研究院物流中心,北京100076) ,  Yu Wang (中国運載火箭技術研究院物流中心,北京100076)
資料名： Jisuanji Celiang yu Kongzhi  (Jisuanji Celiang yu Kongzhi)
巻： 28  号： 9  ページ： 29-33  発行年： 2020年 
JST資料番号： C3592A  ISSN： 1671-4598  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： ある国産SoC装置の性能指標を正確に評価するために、この回路に完全なテストソリューションを提供する必要がある。このSoCデバイスシミュレーション部分の構造分布と機能記述に基づき、テストベンチのハードウェア資源、テストベクトルの自動変換ソフトと手作業で編集した結合使用を合理的に分配し、コンバータのテスト技術とアナログスイッチテスト技術などを活用した。回路システムの制御下で、国産SoCアナログ部分であるA/Dコンバータとアナログスイッチの完全テストと正確な評価を実現し、それによって国産SoCデバイスがアナログ部分の設計改善と性能向上に有力な技術保障を提供した。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ベクトル ,  変換器 ,  アナログ系 ,  ハードウェア ,  *AD変換器
準シソーラス用語： *システムオンチップ ,  テストベンチ ,  *デバイスシミュレーション ,  性能指標 ,  国産 ,  アナログSW , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電子回路一般  (NC05010N)

タイトルに関連する用語 (5件)： 国産 ,  SOC ,  デバイスシミュレーション ,  試験 ,  研究