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J-GLOBAL ID:202002258792048296   整理番号:20A1072628

単一光子アバランシェダイオードにおける暗計数率モデリング【JST・京大機械翻訳】

Dark Count Rate Modeling in Single-Photon Avalanche Diodes
著者 (6件):
資料名:
巻: 67  号:ページ: 1507-1515  発行年: 2020年 
JST資料番号: C0226B  ISSN: 1549-8328  CODEN: ITCSCH  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,完全な金属酸化物半導体(CMOS)技術における単一光子弁別ダイオード(SPAD)のために,正確にDark Count Rate(DCR)をシミュレートするモデルを提示した。モデル開発は,将来の宇宙LIDAR応用に使用されるSPADの仕様に適合する必要性により駆動されている。DCRを評価するために,モデルは,トラップ母集団,技術計算機支援設計(TCAD)シミュレーションおよびMatlabルーチンに関連するデータを得るための測定の組合せに基づいている。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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電力変換器 
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