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J-GLOBAL ID:202002258878923025   整理番号:20A0382363

彗星フェーズIエレクトロニクスのための放射線硬度研究【JST・京大機械翻訳】

Radiation hardness study for the COMET Phase-I electronics
著者 (19件):
資料名:
巻: 955  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: D0208B  ISSN: 0168-9002  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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フロントエンド読み出しとトリガエレクトロニクスに関する放射線損傷は,J-PARCにおけるCOMETフェーズ-I実験における重要な問題であり,それは電子へのミューオンのニュートリノ転移の探索を計画する。強力なμ粒子ビームを生成するために,高出力陽子ビームがグラファイトターゲットに衝突し,高放射環境をもたらす。物理測定の期間にわたる5の安全係数を含む1.0×10~12n_eqcm-2の全線量に対する放射線耐性を必要とした。このような構成要素が確保できれば,高い放射線耐性を持つ商業的に利用可能なエレクトロニクス部品の使用は,このような環境において望ましい。市販の電子部品の放射線硬度をγ線と中性子照射試験で評価した。これらの試験の結果として,電圧調整器,ADC,DAC,およびいくつかの他の成分が,著者らが必要とするレベルでγ線と中性子照射の両方に十分な耐性を持つことがわかった。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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半導体の放射線による構造と物性の変化 

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