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J-GLOBAL ID：202002259365947247   整理番号：20A1576838

真空中のDC表面フラッシュオーバの温度特性に関する研究【JST・京大機械翻訳】

Research on Temperature Characteristics of DC Surface Flashover in Vacuum

著者 (6件)： Zhang Zhenjun (State Grid Shandong Electric Power Research Institute State Grid,Jinan,China) ,  Shao Mingyan (State Grid Jinan Power Supply Company State Grid,Jinan,China) ,  Zhu Zhenhua (State Grid Shandong Electric Power Research Institute State Grid,Jinan,China) ,  Li Na (State Grid Shandong Electric Power Research Institute State Grid,Jinan,China) ,  Xu Ran (State Grid Shandong Electric Power Research Institute State Grid,Jinan,China) ,  Wang Yanan (State Grid Shandong Electric Power Research Institute State Grid,Jinan,China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： ACPEE  ページ： 1345-1349  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ポリマーはポリイミドのような良好なコロナ抵抗を有する優れた電気絶縁材料である。それは,電力システム絶縁,航空宇宙産業,海洋電気装置およびマイクロエレクトロニクスに広く適用されてきた。本論文では,ポリイミドの種々の温度下のDC表面フラッシュオーバ実験を,真空中で研究し,複雑な工学環境における高分子の信頼性を高めるために,表面フラッシュオーバ機構を明らかにした。DC表面フラッシュオーバー電圧は,最初に減少し,次に増加し,最終的に193≦353Kの範囲で温度の増加とともに再び減少した。フラッシュオーバ電圧は313Kで最大に達し,273Kで最小に達した。また,実験は,フラッシュオーバ電圧が,低温領域(193≦λ≦273K)と比較して,高温領域(313≦λ373K)で著しく強化されることを見出した。実験は,カソード近くの熱電子放出,誘電体絶縁体の電荷輸送,および熱活性化脱ガスが,温度が上昇するとき,高分子表面フラッシュオーバ電圧の3つの重要因子であり,そして,真空における表面フラッシュオーバ特性に影響を及ぼす最も重要な因子である熱活性化脱ガスであることを示した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 低温 ,  電圧 ,  誘電体 ,  信頼性 ,  ポリイミド ,  絶縁材料 ,  電力系統 ,  脱ガス ,  高分子 ,  海洋 ,  *フラッシュオーバ ,  マイクロエレクトロニクス ,  カソード ,  絶縁体
準シソーラス用語： 電荷輸送 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 医用画像処理  (JE04020T) ,  音声処理  (JE05000E) ,  NMR一般  (BM07041R) ,  符号理論  (ND02030R) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 真空 ,  DC ,  フラッシュオーバ ,  温度特性 ,  研究