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J-GLOBAL ID：202002259717256746   整理番号：20A2661868

低温における13CH_4 ν_μ_2+2ν_3バンドの線帰属【JST・京大機械翻訳】

Line assignment of the ¹³CH₄ ν₂ +2ν₃ band at low temperature

著者 (4件)： Sinitsa L. N. (V. E. Zuev Institute of Atmospheric Optics (Russian Federation)) ,  Serdyukov V. I. (V. E. Zuev Institute of Atmospheric Optics (Russian Federation)) ,  Lugovskoi A. A. (V. E. Zuev Institute of Atmospheric Optics (Russian Federation)) ,  Baranovskaya I. L. (Irkutsk National Research Technical Univ. (Russian Federation))
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 11560  ページ： 1156008-7  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 7400から7600cm-1の範囲の13CH_4吸収スペクトルを,91から300hPaの圧力,0.03cm-1のスペクトル分解能で,Fourier変換分光計を用いて,296Kから200Kまでの4つの温度で記録した。220の長いcmセルを使用して,それは10-6cm-1のオーダーの吸収に対する閾値感度を提供した。200K,254K,296K,305Kで測定した線の強度比から,より低い状態エネルギー準位の経験的値を導いた。13CH_4分子のν_2+2ν_3バンドの線帰属を行った。COPYRIGHT SPIE. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： エネルギー準位 ,  吸収スペクトル ,  *低温 ,  スペクトル分解
準シソーラス用語： Fourier変換分光計 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V) ,  半導体レーザ  (BD04070L) ,  地球化学一般  (DD01010E) ,  レーザ照射・損傷  (BK16040S) ,  腫ようの実験的治療  (GE02040Y)

タイトルに関連する用語 (2件)： 低温 ,  バンド