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J-GLOBAL ID：202002259797549379   整理番号：20A2563744

X線照射下の低温蒸着希ガス膜中の吸収線量の定量的評価:シミュレーション対実験【JST・京大機械翻訳】

Quantitative assessment of the absorbed dose in cryodeposited noble-gas films under X-ray irradiation: Simulation vs. experiment

著者 (4件)： Zasimov Pavel V. (Department of Chemistry, Lomonosov Moscow State University, 119991, Moscow, Russia) ,  Belousov Alexandr V. (State Research Center - Burnasyan Federal Medical Biophysical Center of Federal Medical Biological Agency, 123182, Moscow, Russia) ,  Baranova Irina A. (Department of Chemistry, Lomonosov Moscow State University, 119991, Moscow, Russia) ,  Feldman Vladimir I. (Department of Chemistry, Lomonosov Moscow State University, 119991, Moscow, Russia)
資料名： Radiation Physics and Chemistry  (Radiation Physics and Chemistry)
巻： 177  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0627A  ISSN： 0969-806X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究は,特にマトリックス分離実験に関連した極低温蒸着膜のX線照射下の吸収線量の定量的測定を目的とした。Geant4コードを用いたモンテカルロシミュレーションによって,特定のクライオスタット形状におけるX線管(46.6kVp)で照射された異なる厚さの固体希ガスの層における相対吸収線量を計算した。得られた値を較正するために,同じ形状で照射したフェロ硫酸塩線量計における相対吸収線量を同じ方法で計算した。希ガス層と線量測定システムにおける光子スペクトルと相対吸収線量に及ぼす付加的Alフィルタ(420μm)の影響をシミュレーションした。実験検証は,6Kでクライオスタット中で照射された異なる固体希ガスマトリックス(Ar,Kr,およびXe,1:1000)中で単離されたエタン分子の放射線誘起減衰速度のモニタリングに基づいた。このシミュレーションは,線量測定システムおよび異なる固体希ガス(80~180μm)の層の両方における相対的吸収線量率に対するフィルタの実験的に観察された効果をよく再現することを示した。絶対吸収線量率を異なる希ガス中の堆積層厚の関数として測定した。単一有効エネルギー値に基づく粗推定によるシミュレーション結果の比較を論じた。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： モンテカルロ法 ,  *X線照射 ,  *希ガス ,  クライオスタット ,  *シミュレーション ,  蒸着膜 ,  鉄 ,  硫酸塩 ,  線量測定 ,  スペクトル ,  *吸収線量 ,  固体希ガス ,  *蒸着 ,  アルカン
準シソーラス用語： モンテカルロシミュレーション , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 希ガス固体 ,  X線照射 ,  低温放射線分解 ,  線量計算 ,  モンテカルロ ,  Geant4コード

分類 (1件)： 線量計測・計測器  (AD08050Q)

物質索引 (1件)： エタン

タイトルに関連する用語 (8件)： X線照射 ,  低温 ,  蒸着 ,  希ガス ,  吸収線量 ,  定量的評価 ,  シミュレーション ,  実験