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J-GLOBAL ID：202002259883142108   整理番号：20A2662491

アンチビグネッティングガラス検出における非接触測定技術の誤差解析と除去技術に関する研究【JST・京大機械翻訳】

Research on error analysis and elimination technology of non-contact measurement technology in anti-vignetting glass detection

著者 (11件)： Li Kaiyu (China Building Materials Academy (China)) ,  Lv Xueliang (China Building Materials Academy (China)) ,  Li Zijin (China Building Materials Academy (China)) ,  Zheng Jingming (China Building Materials Academy (China)) ,  Sun Yong (China Building Materials Academy (China)) ,  Cao Zhenbo (China Building Materials Academy (China)) ,  Bo Tiezhu (China Building Materials Academy (China)) ,  Hong Sheng (China Building Materials Academy (China)) ,  Kong Zhuang (China Building Materials Academy (China)) ,  Na Tianyi (China Building Materials Academy (China)) ,  Wang Chen (China Building Materials Academy (China))
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 11567  ページ： 115673X-7  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： アンチベネッティングガラス(AVG)は,超第二および第三世代低光画像インテンシファイアのための重要材料である。低光夜間ビジョン技術の開発によって,高精度と低損傷の必要条件をAVGに提唱した。しかし,vernier calipers,マイクロメータ,dial指標などの従来の測定法は,すべての接触測定であり,それは,測定プロセスの間,AVGに損傷を必然的に引き起こす。それらは低損傷の技術的要求に合致できない。非接触測定技術は,測定プログラムの書き込みと測定パラメータ設定によるAVGの幾何学的測定を実現する非破壊試験法である。しかし,AVGの特殊構造のため,非接触測定技術は測定誤差を持ち,高精度測定要求に合致できない。本論文では,光源の特性,光強度の差,および輪郭エッジの溝の方法を研究することにより,非接触測定技術における誤差の原因を系統的に解析した。誤差補正技術を通して,非接触測定技術の誤差を除去し,AVG高精度と低損傷非破壊試験を実現した。COPYRIGHT SPIE. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *光源 ,  測定誤差 ,  マイクロメータ ,  誤差解析 ,  非接触測定 ,  誤り訂正 ,  必要条件 ,  非破壊検査
準シソーラス用語： 光強度 ,  高精度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (3件)： 非接触測定 ,  誤差解析 ,  研究