Geum Dae-Myeong について
School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST), Daejeon, South Korea について
Kim Seong Kwang について
School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST), Daejeon, South Korea について
Lee Subin について
Korea Institute of Science and Technology (KIST), Seoul, South Korea について
Lim Donghwan について
Division of Materials Science and Engineering, Hanyang University, Seoul, South Korea について
Kim Hyung-Jun について
Korea Institute of Science and Technology (KIST), Seoul, South Korea について
Choi Chang Hwan について
Division of Materials Science and Engineering, Hanyang University, Seoul, South Korea について
Kim Sang-Hyeon について
School of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST), Daejeon, South Korea について
IEEE Electron Device Letters について
FET【トランジスタ】 について
高分解能 について
光検出器 について
シーケンシャル処理 について
MOSFET について
トランジスタ について
三次元 について
半導体 について
検出器 について
ヒ化ガリウムインジウム について
酸化物 について
イメージングシステム について
出力電圧 について
読出回路 について
低温プロセス について
トランジスタ について
作製 について
プロセス について
Si について
MOSFET について
InGaAs について
光検出器 について
3D について
集積 について