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J-GLOBAL ID：202002266689528678   整理番号：20A2549231

X線バッグゲージ検査システムのための検出器性能のモンテカルロシミュレーション研究【JST・京大機械翻訳】

Monte Carlo simulation study of detector performance for X-ray baggage inspection system

著者 (2件)： Kumar Amit (Electronics Division, Bhabha Atomic Research Centre, Trombay, Mumbai-400085, India) ,  Topkar Anita (Electronics Division, Bhabha Atomic Research Centre, Trombay, Mumbai-400085, India)
資料名： AIP Conference Proceedings  (AIP Conference Proceedings)
巻： 2265  号： 1  ページ： 030201-030201-4  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0071C  ISSN： 0094-243X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シンチレータに結合したシリコンフォトダイオードは,セキュリティや医療用途のためのラジオグラフィーやトモグラフィーを含むX線イメージング用途に広く使用されている。X線バッグ検査システム(XBIS)を用いて,物体の二重エネルギーラジオグラフィーを用いて脅威材料を検出した。シンチレーション光子の生成,シンチレータにおけるエネルギー堆積およびフォトダイオードにおける電荷発生に関するこれらのシステムの基本的な理解は,システムの設計および所望のイメージング性能を達成するための検出器パラメータの最適化に不可欠である。本研究では,モンテカルロシミュレーションを行い,X線スペクトルの理論的生成から出発する検出器の性能を解析した。二重エネルギー材料識別のためのこのスペクトル検出器性能を用いた。浸透能力を評価するための物体のX線画像も得た。R値は,材料の厚さで一定であると観測された単一エネルギーX線光子に対する異なる材料について計算した。しかし,これらの値は,実際の140keVのX線スペクトルがシミュレーションに使用されたとき,材料の厚さの増加とともに減少することが観察された。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線スペクトル ,  光子 ,  最適化 ,  シンチレーション ,  *シンチレータ ,  電荷 ,  フォトダイオード ,  ケイ素 ,  画像処理 ,  ラジオグラフィー ,  検出器 ,  浸透率 ,  X線画像 ,  トモグラフィー
準シソーラス用語： *モンテカルロシミュレーション , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  その他の線源の利用  (MC01060N)

タイトルに関連する用語 (7件)： X線 ,  バッグ ,  ゲージ ,  検査システム ,  検出器 ,  モンテカルロシミュレーション ,  研究