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J-GLOBAL ID:202002266817780464   整理番号:20A2618426

高度分散測定システムにおける汎用光電子測定モジュール【JST・京大機械翻訳】

Universal Optoelectronic Measuring Modules in Advanced Distributed Measuring Systems
著者 (5件):
資料名:
巻: 2020  号: ET  ページ: 1-4  発行年: 2020年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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大きなあるいは長い物体は,1つ以上の測定機器の組み合わせとして測定システムを必要とする。この場合,装置の組合せは,いくつかの測定モジュールと1つの中心モジュールから成るネットワークシステムである。測定モジュールは,測定情報の予備計算をして,測定パラメータの最終計算のためにそれを中心モジュールに変換する。また,中心モジュールは情報の測定とアーカイブの統計を作った。いくつかのタスクは,物体の角度と線形座標を測定する非接触法を必要とする。中心モジュールは,測定情報の二段階処理を実行することができた。第一段階では,中央測定モジュールはGPSセンサから受信した情報に基づく分散測定システムの予備構成を実行する。第二段階は,光学電子測定法に基づく周辺モジュールから受信した測定情報を用いることである。2段階処理の使用は,分散測定システムの効率を著しく改善できる。光電子測定装置(OEMD)は,これらの目的に理想的である。これらのデバイスはまた,大きな精度,較正,および適応のような他の利点を有する。本論文では,分散測定システムの変種について述べた。角度と線形座標の測定のための統一オプトエレクトロニックモジュールの記述に基本的注意を払った。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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図形・画像処理一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
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