文献

J-GLOBAL ID：202002267370858959   整理番号：20A1107990

脱リチウム中のアルミナ被覆Si電極の構造発展に及ぼす既存の界面欠陥の影響【JST・京大機械翻訳】

Effects of pre-existing interfacial defects on the structural evolution of alumina coated Si electrode during delithiation

著者 (9件)： Feng Chen (State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China) ,  Shi Tielin (State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China) ,  Shi Tielin (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China) ,  Li Junjie (State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China) ,  Cheng Siyi (State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China) ,  Liao Guanglan (State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China) ,  Liao Guanglan (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China) ,  Tang Zirong (State Key Laboratory of Digital Manufacturing Equipment and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China) ,  Tang Zirong (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 520  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 界面劣化は,Siベースのリチウムイオン電池の劣った性能の根本原因の一つである。サイクルにおける界面劣化の役割を明らかにするだけで,電池のロバスト性と耐久性を改善するために電極を最適化することができる。ここでは,異なる程度の界面欠陥を持つa-Siコア/a-Al_2O_3被覆電極の「自然」脱リチオ化応答を調べるために,反応力場(ReaxFF)原子論シミュレーションを行った。有効被覆率(ECR)を,a-Li_xSi/a-Li_xAl_2O_3界面上の既存の欠陥の異なる程度を模倣するために導入した。シミュレーションにより,任意のECR試料において,脱リチオ化は,より高い放電速度とより低いナノ多孔性をもつ定常段階と,より低い放電速度をもつ非定常段階とより大きなナノ細孔の凝集体の2段階として特性化できることを示した。ECRの劣化は定常段階を短くし,非定常段階を延長した。結果として,更なる界面剥離は,完全放電条件において,より低いECR試料において形成しやすく,そして,既存の欠陥は,その後のサイクルの間,「ブースト」界面層間剥離を引き起こした。その上,ECRが閾値(約55%)以下に減少したとき,電池容量は急速な損失を持つ。本研究は原子レベルでのSi電極の脱リチウム誘起界面分解機構の基本的理解を提供する。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *界面 ,  最適化 ,  シミュレーション ,  電池 ,  放電 ,  *ケイ素 ,  分子動力学 ,  ロバスト性 ,  応力場 ,  電池容量 ,  層間剥離 ,  凝集体 ,  リチウムイオン電池
準シソーラス用語： ナノ細孔 ,  脱リチオ化 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： シリコン電極 ,  分子動力学 ,  界面剥離 ,  ナノ多孔性 ,  容量損失

分類 (2件)： 二次電池  (YB04030K) ,  電極過程  (CB07040U)

タイトルに関連する用語 (5件)： 脱リチウム ,  アルミナ被覆 ,  Si ,  発展 ,  界面欠陥