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J-GLOBAL ID：202002268586461567   整理番号：20A2272879

係留二分子膜の欠陥クラスタリングの計算モデル【JST・京大機械翻訳】

Computational Models of Defect Clustering for Tethered Bilayer Membranes

著者 (4件)： Raila Tomas (Institute of Computer Science, Vilnius University, Vilnius, Lithuania) ,  Jankunec Marija (Life Sciences Center, Vilnius University, Vilnius, Lithuania) ,  Meskauskas Tadas (Institute of Computer Science, Vilnius University, Vilnius, Lithuania) ,  Valincius Gintaras (Life Sciences Center, Vilnius University, Vilnius, Lithuania)
資料名： Lecture Notes in Computer Science  (Lecture Notes in Computer Science)
巻： 12253  ページ： 496-504  発行年： 2020年 
JST資料番号： H0078D  ISSN： 0302-9743  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究は,二分子層リン脂質膜で観察される欠陥クラスタ化効果の計算モデリングを扱う。2つの欠陥クラスタ化モデル(アルゴリズム)を提示して,ランダム欠陥分布方式と比較した。特定の欠陥分布事例を,それらのセクター領域のVoronoi図と統計的性質に基づく簡単な方法論を用いて評価した。異なるパラメータ組合せで合成欠陥分布を生成するため,計算モデルを用いて計算実験を行った。また,欠陥を有する実際の膜の原子間力顕微鏡画像に対して,提案した方法を検証した。Copyright Springer Nature Switzerland AG 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  計算機シミュレーション ,  *二分子層 ,  *クラスタ化 ,  *係留 ,  Voronoi図 ,  *計算モデル ,  原子間力顕微鏡
準シソーラス用語： リン脂質膜 ,  *欠陥クラスタ ,  計算モデル化 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： Voronoi図 ,  2D点クラスタリング ,  計算機シミュレーション ,  リン脂質膜

分類 (3件)： 生体膜一般  (EF04010G) ,  半導体の格子欠陥  (BK12040Q) ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 係留 ,  二分子膜 ,  欠陥クラスタ ,  計算モデル