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J-GLOBAL ID：202002268807547975   整理番号：20A2661745

光学測定装置のための制御システムの設計【JST・京大機械翻訳】

Design of control system for optical measuring device

著者 (2件)： Yu Minghui (Univ. of Shanghai for Science and Technology (China)) ,  Han Sen (Univ. of Shanghai for Science and Technology (China))
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 11552  ページ： 1155215-7  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,主にPC制御手段によるレーザ干渉計を研究し,光学測定制御装置を調整し,従来のレーザ干渉計を手動で調整し,低精度の短所を手動で調整し,定量的制御を困難にする。Windowsによるこのシステムは,PL2303HXDレベル変換モジュールによって,CC2530MCU,MCU制御動作に,それに応じてコマンドに従って,送信する。高精度モータ機械部品組合せによる光学測定調整装置によって,測定パラメータを調整し,レーザ干渉計の環境と測定精度の要求を満たすことができた。それは,定量的制御,便利な操作の特性を持ち,測定に及ぼす空気流と振動影響の人工調整を減少して,サンプル検出をより正確で効率的にした。COPYRIGHT SPIE. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 制御装置 ,  制御系 ,  機械要素 ,  電動機 ,  *光学的測定 ,  測定精度 ,  制御動作 ,  空気流 ,  Windows ,  レーザ干渉計
準シソーラス用語： 高精度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 光学測定 ,  制御システム ,  設計